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方阻测试仪的结构及原理

发布时间:2023/1/1738

1.KDY1A便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

   本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。

   它主要由电器测量部份(主机)及四探针头组成,需要时可加配测试架。

   为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流由高精度的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1~100Ω·cm标准样片的测量误差不超过±3%,在此范围内达到国家标准一级机的水平。

 

2、测试仪结构及原理

测试仪主机由主机板、前面板、后背板及机箱组成,数字表、测试电流换档开关、电阻率/方阻转换开关、校准/测量变换开关以及电流调节电位器均装在前面板上。后背板上只装有电源插座、电源开关、保险管及四探针连接插座。机箱底板上只装了主机板。前后面板与主机板之间的联接均采用接插件,便于拆卸维修。

KDY1A型电阻率测试仪的基本原理是恒流源给探头1.4探针提供稳定的测量电流I,由2、3探针测取被测样品上的电位差V,

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